可靠性試驗矽普產(chǎn)品進行可靠性試驗的目的是找到產(chǎn)品的薄弱點，了解、驗證、評價、分析和提高產(chǎn)品的可靠性。不同級別的芯片會面臨不同的應(yīng)用環(huán)境，級別越高應(yīng)用環(huán)境越復(fù)雜，對應(yīng)可靠性要求也會更高、更嚴格。我們的所有產(chǎn)品都經(jīng)過嚴格的出廠測試，保障交付給客戶的產(chǎn)品均為良品，但為探究產(chǎn)品在經(jīng)受長期時間損耗的影響，還需要進一步的可靠性測試，模擬實際使用中的一些嚴苛使用條件對產(chǎn)品的沖擊，以評估芯片的壽命及可能存在的風(fēng)險，改進并提升產(chǎn)品性能。
試驗項目不同等級的產(chǎn)品有相應(yīng)不同的要求，對其進行的可靠性試驗的目的是為證明其自身滿足對該分類的標準?？煽啃栽囼灥脑囼烅椖渴且罁?jù)不同級別的產(chǎn)品具體的應(yīng)用環(huán)境來設(shè)計，模擬產(chǎn)品在正常使用中的環(huán)境因素，驗證其功能一致性和耐久性。
| 要求 Requirement等級 Rank | 消費級 Consumption grade | 工業(yè)級 Industrial grade | 車規(guī)級 Automotive grade |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用 | 手機、PC等 | 工業(yè)控制 | 汽車電子 |
| 溫度 | 0~70℃ | -40~85℃ | -40~150℃ |
| 濕度 | 中 | 根據(jù)環(huán)境 | 0~100% |
| 振動/沖擊 | 中 | 較高 | 高 |
| 壽命 | 1~3年 | 5-10年 | 15年 |
| 可靠性 | 中 | 較高 | 高 |
| 出錯率 | <3% | <1% | 0 |
消費級| 試驗類別 Category | 試驗項目 Test Contents | 試驗條件 Condition | 試驗時間 Time | 樣品數(shù)量 S.S | 判定標準 Acc/Re | 參考標準 Reference |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 環(huán)境試驗 | HTS (高溫存儲) | Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 |
| LTS (低溫存儲) | Ta=-55℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 | |
| TC (溫度循環(huán)) | Ta: -65℃ to 150℃ （Ta: -55℃ to 150℃） | 500cycles (1000cycles) | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A104 | |
| PCT (壓力蒸煮試驗) | Ta=121℃，RH=100%, 1atm | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
| HAST （高加速應(yīng)力試驗） | Ta=130℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=42V) | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| uHAST （無偏高加速應(yīng)力試驗） | Ta=130℃，85%RH | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| H3TRB (高溫高濕反偏) | Ta=85℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=100V) | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A101 | |
| Precondition (預(yù)處理 For SMD only) | Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles Step2: Bake: 125℃ ，24hrs Step3: MSL: 30℃/60%RH ，192hrs Step4: IR: 260℃ ，3cycles | NA | 77Pcs | 0/1 | JESD22A-113 |
工業(yè)級| 試驗類別 Category | 試驗項目 Test Contents | 試驗條件 Condition | 試驗時間 Time | 樣品數(shù)量 S.S | 判定標準 Acc/Re | 參考標準 Reference |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 壽命試驗 | HTGB (高溫柵極偏置) | Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 |
| HTRB (高溫反向偏壓) | Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 | |
| 環(huán)境試驗 | HTS (高溫存儲) | Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 |
| LTS (低溫存儲) | Ta=-55℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 | |
| TC (溫度循環(huán)) | Ta: -65℃ to 150℃ （Ta: -55℃ to 150℃） | 500cycles (1000cycles) | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A104 | |
| PCT (壓力蒸煮試驗) | Ta=121℃，RH=100%, 1atm | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
| HAST （高加速應(yīng)力試驗） | Ta=130℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=42V) | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| uHAST （無偏高加速應(yīng)力試驗） | Ta=130℃，85%RH | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| H3TRB (高溫高濕反偏) | Ta=85℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=100V) | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A101 | |
| Precondition (預(yù)處理 For SMD only) | Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles Step2: Bake: 125℃ ，24hrs Step3: MSL: 30℃/60%RH ，192hrs Step4: IR: 260℃ ，3cycles | NA | 77Pcs | 0/1 | JESD22A-113 |
車規(guī)級| 試驗類別 Category | 試驗項目 Test Contents | 試驗條件 Condition | 試驗時間 Time | 樣品數(shù)量 S.S | 判定標準 Acc/Re | 參考標準 Reference |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 壽命試驗 | HTGB (高溫柵極偏置) | Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 |
| HTRB (高溫反向偏壓) | Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 | |
| 環(huán)境試驗 | HTS (高溫存儲) | Ta=150℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 |
| LTS (低溫存儲) | Ta=-55℃ | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 | |
| TC (溫度循環(huán)) | Ta: -65℃ to 150℃ （Ta: -55℃ to 150℃） | 500cycles (1000cycles) | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A104 | |
| PCT (壓力蒸煮試驗) | Ta=121℃，RH=100%, 1atm | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
| HAST （高加速應(yīng)力試驗） | Ta=130℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=42V) | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| uHAST （無偏高加速應(yīng)力試驗） | Ta=130℃，85%RH | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A110 | |
| H3TRB (高溫高濕反偏) | Ta=85℃，85%RH Vds=80%VdsMax（Max=100V) | 1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A101 | |
| Precondition (預(yù)處理 For SMD only) | Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles Step2: Bake: 125℃ ，24hrs Step3: MSL: 85℃/85%RH ，168hrs Step4: IR: 260℃ ，3cycles | NA | 77Pcs | 0/1 | JESD22A-113 |
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